PCT高壓加速老化試驗機
產(chǎn)品名稱：PCT高壓加速老化試驗機/PCT老化試驗箱
溫度范圍：A(110℃～132℃);B(110℃～147℃)
壓力范圍A：(壓力表+0.2～2.0kg/cm2);B(壓力表+0.2～3.5kg/cm2
濕度范圍：100%R.H(飽和蒸汽)
加壓時間：約45min
產(chǎn)品 · 詳情product details
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設備用途Equipment use
PCT高壓加速老化試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。
廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
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產(chǎn)品 · 特點Product features
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標準設計更安全
內(nèi)膽采用圓弧設計防止結(jié)露滴水，符合國家安全容器規(guī)范；
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自主設計
大型彩色液晶觸摸控制器，側(cè)面纜線孔方便外部負載及內(nèi)部數(shù)據(jù)連接，通過選購接口可進行網(wǎng)絡監(jiān)控；
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全自動補水
試驗開始時系統(tǒng)自動一次加足試驗所需用水，試驗永久不中斷；
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低噪音設計
運行音量可達65db極致靜音標準；
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智能化高
支持電腦連接， 利用USB數(shù)據(jù)、 曲線導出保存
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